फ्लॅट पॅनेल डिस्प्ले (FPD) उत्पादनादरम्यान, पॅनेलची कार्यक्षमता तपासण्यासाठी चाचण्या आणि उत्पादन प्रक्रियेचे मूल्यांकन करण्यासाठी चाचण्या केल्या जातात.
ॲरे प्रक्रियेदरम्यान चाचणी
ॲरे प्रक्रियेमध्ये पॅनेल फंक्शन तपासण्यासाठी, ॲरे टेस्टर, ॲरे प्रोब आणि प्रोब युनिट वापरून ॲरे टेस्ट केली जाते.ही चाचणी काचेच्या सब्सट्रेट्सवरील पॅनेलसाठी तयार केलेल्या TFT ॲरे सर्किट्सच्या कार्यक्षमतेची चाचणी करण्यासाठी आणि कोणत्याही तुटलेल्या तारा किंवा शॉर्ट्स शोधण्यासाठी डिझाइन केली आहे.
त्याच वेळी, प्रक्रियेचे यश तपासण्यासाठी आणि मागील प्रक्रियेचा अभिप्राय तपासण्यासाठी ॲरे प्रक्रियेतील प्रक्रियेची चाचणी करण्यासाठी, टीईजी चाचणीसाठी डीसी पॅरामीटर टेस्टर, टीईजी प्रोब आणि प्रोब युनिटचा वापर केला जातो.(“TEG” म्हणजे टेस्ट एलिमेंट ग्रुप, TFTs, कॅपेसिटिव्ह एलिमेंट्स, वायर एलिमेंट्स आणि ॲरे सर्किटच्या इतर घटकांसह.)
युनिट/मॉड्यूल प्रक्रियेत चाचणी
सेल प्रक्रिया आणि मॉड्यूल प्रक्रियेत पॅनेल कार्य तपासण्यासाठी, प्रकाश चाचण्या घेण्यात आल्या.
पॅनेलचे कार्य, बिंदू दोष, रेषेतील दोष, क्रोमॅटिकिटी, क्रोमॅटिक ॲबरेशन (नॉन-एकरूपता), कॉन्ट्रास्ट इत्यादी तपासण्यासाठी चाचणी नमुना प्रदर्शित करण्यासाठी पॅनेल सक्रिय आणि प्रकाशित केले जाते.
दोन तपासणी पद्धती आहेत: ऑपरेटर व्हिज्युअल पॅनेल तपासणी आणि CCD कॅमेरा वापरून स्वयंचलित पॅनेल तपासणी जे स्वयंचलितपणे दोष शोधणे आणि पास/अयशस्वी चाचणी करते.
तपासणीसाठी सेल टेस्टर्स, सेल प्रोब आणि प्रोब युनिट्सचा वापर केला जातो.
मॉड्यूल चाचणी मुरा शोध आणि नुकसान भरपाई प्रणाली देखील वापरते जी आपोआप मुरा किंवा डिस्प्लेमधील असमानता शोधते आणि प्रकाश-नियंत्रित नुकसानभरपाईसह मुरा काढून टाकते.
पोस्ट वेळ: जानेवारी-18-2022