फ्लॅट पॅनल डिस्प्ले (FPD) च्या निर्मितीदरम्यान, पॅनलची कार्यक्षमता तपासण्यासाठी चाचण्या आणि उत्पादन प्रक्रियेचे मूल्यांकन करण्यासाठी चाचण्या केल्या जातात.
अॅरे प्रक्रियेदरम्यान चाचणी
अॅरे प्रक्रियेमध्ये पॅनेलच्या कार्याची चाचणी घेण्यासाठी, अॅरे टेस्टर, अॅरे प्रोब आणि प्रोब युनिट वापरून अॅरे चाचणी केली जाते. ही चाचणी काचेच्या सब्सट्रेटवरील पॅनेलसाठी तयार केलेल्या टीएफटी अॅरे सर्किट्सच्या कार्यक्षमतेची तपासणी करण्यासाठी आणि कोणत्याही तुटलेल्या तारा किंवा शॉर्ट्स शोधण्यासाठी तयार केली आहे.
त्याच वेळी, अॅरे प्रक्रियेतील प्रक्रियेची यशस्वीता तपासण्यासाठी आणि मागील प्रक्रियेबद्दल अभिप्राय देण्यासाठी, TEG चाचणीकरिता डीसी पॅरामीटर टेस्टर, TEG प्रोब आणि प्रोब युनिट वापरले जातात. (“TEG” म्हणजे टेस्ट एलिमेंट ग्रुप, ज्यामध्ये TFTs, कपॅसिटिव्ह एलिमेंट्स, वायर एलिमेंट्स आणि अॅरे सर्किटचे इतर घटक समाविष्ट आहेत.)
युनिट/मॉड्यूल प्रक्रियेमध्ये चाचणी
सेल प्रक्रिया आणि मॉड्यूल प्रक्रियेमध्ये पॅनेलच्या कार्याची चाचणी घेण्यासाठी, प्रकाश चाचण्या घेण्यात आल्या.
पॅनेलची कार्यप्रणाली, बिंदू दोष, रेषा दोष, रंगीयता, रंगीय विपथन (असमानता), कॉन्ट्रास्ट इत्यादी तपासण्यासाठी चाचणी नमुना प्रदर्शित करण्याकरिता पॅनेल सक्रिय केले जाते आणि प्रकाशित केले जाते.
तपासणीच्या दोन पद्धती आहेत: ऑपरेटरद्वारे पॅनेलची प्रत्यक्ष पाहणी आणि सीसीडी कॅमेऱ्याचा वापर करून केलेली स्वयंचलित पॅनेल तपासणी, जो आपोआप दोष शोधतो आणि उत्तीर्ण/अनुत्तीर्ण चाचणी करतो.
सेल टेस्टर, सेल प्रोब आणि प्रोब युनिट यांचा वापर तपासणीसाठी केला जातो.
मॉड्यूल चाचणीमध्ये मुरा शोधन आणि भरपाई प्रणालीचाही वापर केला जातो, जी डिस्प्लेमधील मुरा किंवा असमानता आपोआप शोधते आणि प्रकाश-नियंत्रित भरपाईद्वारे मुरा दूर करते.
पोस्ट करण्याची वेळ: १८ जानेवारी २०२२